25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

45
Het Leerling- en onderwijsvolgsysteem (LOVS) Mogelijkheden voor analyse, rapportage en schoolzelfevaluatie Lunteren, 23 maart 2009 Geert Evers Informatiemanager PO-VO E: [email protected]

Transcript of 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Page 1: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Het Leerling- en onderwijsvolgsysteem (LOVS)

Mogelijkheden voor analyse, rapportage

en schoolzelfevaluatie

Lunteren, 23 maart 2009

Geert Evers

Informatiemanager PO-VO

E: [email protected]

Page 2: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

• LVS-toetsen • Entreetoets • Eindtoets Basisonderwijs

Met de toetsen van het LOVS kunnen scholen de

vorderingen van

individuele leerlingen,

groepen leerlingen en

het onderwijs

van groep 1 tot en met groep 8 volgen.

Leerling- en onderwijsvolgsysteem (LOVS)

Page 3: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Analyseren- aanvullende informatie verzamelen- overleggen - plan maken

Signaleren- toets afnemen- registreren en interpreteren

Hoe gaat het in zijn werk?

Handelen- plan uitvoeren- plan evalueren

Page 4: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Kenmerken Cito-instrumenten

Eindtoets Entreetoetsen LVS

inhoud Standaardpakket

Standaardpakket

Assortiment toetsen plus hulpmaterialen

jaargroepen 8 7- 6 - 5 8 -3 (2-1)

Scoring en rapportage

Service Service Zelf

Afnamemoment 1x einde 1 x einde Meerdere keren p/j: kalender

Vernieuwd Elk jaar Periodiek Periodiek

Type score Standaard score + profiel

Percentiel + profiel

Schaalscore: niveaus A t/m Eniveaus I t/m V

Tijd Sinds 2003 Vanaf 2005 Vanaf 2003 (v3/4)

Page 5: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Toetskalender (3-8)

Page 6: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Dat betekent dat vaardigheidsscores op bijvoorbeeld de papieren toets RW M4, de digitale toets RW E4 en de Entreetoets groep 5 onderling vergelijkbaar zijn.

Kenmerkend voor de LOVS systematiek is dat de resultaten van de leerlingen vanuit de verschillende varianten van toetsen naar één en dezelfde schaal vertaald worden.

Vaardigheidsscores

Page 7: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Schoolzelfevaluatie (SZE)

Op basis van opbrengsten einde schooltijd:• Eindtoets Basisonderwijs

(inclusief Niveautoets

Op basis van opbrengsten tijdens de schooltijd:• Entreetoets• LVS-toetsen

Page 8: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Cursus SZE

Doelstellingen• Inzicht krijgen in de betekenis van reeds

aanwezige gegevens uit Cito-instrumenten ten behoeve van de schoolzelfevaluatie

• Leren opbrengsten te rapporteren• Leren analyseren en interpreteren van

opbrengsten ten behoeve van het schoolbeleid en de inspectie

Page 9: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Schoolrapporten Eindtoets

Drie soorten schoolrapporten:

• Schoolrapport A: alle scholen• Schoolrapport B: dezelfde schoolgroep• IC-Tabel: Instroom Correctie

Page 10: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

IC-Standaardscores en IC-Percentielen

Voorbeeld van correctie:

zeilwedstrijd o.a.

• Zeiloppervlakte• Lengte waterlijn

Page 11: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Rapportageprogramma Eindtoets

Page 12: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

EindtoetsIC-tabel

Page 13: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Entreetoets IC-tabel

Page 14: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Werkblad Trendanalyse EB/ET

Rapportages Eindtoets (WebREB 2009)

Rapportage Entreetoets (WebRET 2009)

Integratie in Computerprogramma LOVS vanaf versie 4.2a

Demo werkblad trendanalyse EB, zoals gebruikt in cursus SZE (Excel)

• IC-tabel van drie afgelopen jaren uit REB• Overnemen van GLG-kolommen:• Percentielen plus interval

Page 15: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Bovenschoolse rapportageEindtoets: ongecorrigeerd

524,7

Page 16: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Gecorrigeerd voor gemiddeld leerlinggewicht

Page 17: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Gecorrigeerd voor leerlinggewicht en begrijpend lezen

Page 18: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Rapportage LVS-toetsen• Leerlingniveau

• Groepsniveau

• Schoolniveau (SZE)

Page 19: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Leerlingrapport (standaard)

Page 20: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Leerlingrapport (alternatief)

Page 21: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Categorieënanalyse Rek-Wisk

Page 22: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Leerlingprofiel

Page 23: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Groepsrapport

Page 24: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Opbrengsten tijdens de schoolperiode: LVS

Nodig:• Groep 3 of 4: technisch lezen / DMT• Groep 4: rekenen-wiskunde• Groep 6: rekenen-wiskunde (of Entreetoets)• Groep 6: begrijpend lezen (of Entreetoets)

Methode:Gemiddelde vaardigheidsscore vergelijken met

ondergrens in tabel, of percentage D/E-leerlingen

Waardering:Onvoldoende bij 3 of meer toetsen onder de ondergrens

Page 25: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Basishypothesen diepte-analyse

1. niveau van het vakgebied is constant over alle jaargroepen DD2. niveau jaargroepen is constant TA-JGN3. ontwikkeling groep leerlingen volgt landelijke trend TA-LLN 4. ontwikkeling groep leerlingen volgt vaste trend TA-LLN 5. niveau van leerlingen in een groep blijft gelijk TA-LLN & GA6. niveau is vakonafhankelijk GA7. niveau is toetsonafhankelijk EB/ET

Indien leerlingeninstroom stabiel, en onderwijsaanbod adequaat, dan:

Page 26: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Voorbeeld van een diepteanalyse

zorgsignaal 1

Page 27: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Stappenschema Diepte-analyse

Start: Dwarsdoorsnede alle leerjaren (R/W, BL, SP)• zoek een zorgsignaal (lage score vergeleken met andere jaargroepen)• per zorgsignaal:

– Trendanalyse jaargroepen– Trendanalyse leerlingen– Groepsanalyse

• conclusie eerste zorgsignaal• volgende zorgsignaal (volgens DD)• volgende zorgsignaal etc.• eventueel: vergelijking met Rapportage Eindtoets/EntreetoetsOverall conclusieOnderzoeksplan/verbeterplan

Page 28: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Dwarsdoorsnede

Page 29: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Zorgsignalen

Meer dan 50% onder het landelijk gemiddelde medio 2005-2006

• Groep 4: Rekenen/Wiskunde en Spelling• Groep 7 en 8: Begrijpend lezen

Page 30: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Zorgsignaal 1: Dwarsdoorsnede: Taartdiagram

Page 31: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Zorgsignaal 1: Trendanalyse Jaargroepen:

Page 32: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Zorgsignaal 1: Trendanalyse Leerlingen:

Page 33: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Zorgsignaal 1: Groepsanalyse: jaargroep 4

Page 34: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Conclusies eerste zorgsignaal

1. Rekenen-Wiskunde in groep 4 daalt

2. (In groep 5 en 6 eveneens)

3. (Spelling daalt ook)

4. Ligt niet aan niveau leerlingen

5. Nader onderzoek geboden naar onderwijsaanbod voor RW in 4, 5 en 6 en naar andere vakken in groep 4

Page 35: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Conclusies Diepte-analyse LVS

1. In de groep 4 en 5 nader onderzoek nodig naar Rekenen/wiskunde en spelling

2. In groepen 7 en 8 nader onderzoek nodig naar Begrijpend lezen

3. Niveau in onderbouw lijkt verloren te gaan in bovenbouw

Zorgsignalen die vragen om nader onderzoek:

Page 36: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Einde voorbeeld

Hier gekozen voor Rekenen/Wiskunde, Spelling en Begrijpend lezen

Ook andere vakgebieden mogelijk

Belangrijk:• systematisch stappen volgen• zorgsignaal afmaken en conclusies trekken• vastleggen in document

Page 37: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Schoolzelfevaluatie

• Maak een diepte-analyse van de opbrengsten van uw school

• Analyseer de LVS-database• Maak een rapport• Schrijf een eindconclusie

Page 38: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Schoolverbetering?

Nader onderzoek:Leerlingen:

Proces:

Context:

•cohort/jaargroep

•Individuen

•Leraar

•Programma

•Evaluatie

•Ouderbetrokkenheid

•Gebouw – financiën - etc

Page 39: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Plan van aanpak: nader onderzoek

Afspraken over:

1. Onderzoeksvragen (geprioteerd)

2. Methoden van onderzoek:

1. Interviews/gesprekken

2. Klassenbezoek/ observatie

3. Enquête

4. Bijeenkomst (team, deelteam, ouders, etc)

5. Documentanalyse (klassenboeken, methoden, planningen)

3. Tijdsplanning - rapportage

4. Verantwoordelijken - betrokkenen

5. externe expertise ?

Let op: Zorgen voor draagvlak, inbedding

Page 40: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Verbeterplan

Plan• Actieplan – schoolbeleidsplan• Sterkte-zwakte-analyse SWOT• Werken aan draagvlak

Do• Monitoring

Check• Evaluaties

Act of adapt• Borging• Verbeterplan nieuwe cyclus

Page 41: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Demo Computerprogramma LOVS

Page 42: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Leerlingadministratie én Toetsverwerking (1)

Page 43: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

• Leerlingadministratie geen core-business Cito• Cito expert in toetsverwerking:

– Hechte koppeling met digitale toetsen– Analyse op opgaven- en categorieniveau uniek

voor Computerprogramma LOVS– Geavanceerde analyses (schoolzelfevaluatie)

• Optimale koppeling met LAS (onafhankelijk van leverancier)

• Webtechnologie voor logistiek (webservices)

Leerlingadministratie én Toetsverwerking (2)

Page 44: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Korte vooruitblik op de toekomst

• Functionaliteit– Meer detailanalyses op opgaven- en categorieniveau– Meer aandacht individuele leerlijnen,

ontwikkelingsperspectief, dyslexie etc.– Schoolrapportage in combinatie met de Eindtoets– Bovenschoolse kwaliteitszorg

• Techniek– Webbased koppeling met LAS’sen– Losse administratiemodules digitale toetsen gaan

verdwijnen (hechte integratie met CP-LOVS)– Click-once installatie vanaf netwerk of internet– Webbased uitwisseling gegevens gecombineerd met

kracht van de Windows-client (best of both worlds)

Page 45: 25.0C Elektronisch Gegevens Analyseren - Orient a Tie Circuit - Geert Evers

Afsluiting

Vragen / opmerkingen?

Bedankt voor uw aandacht!

Aanvullende informatie:Ilse Papenburg (training&advies)E: [email protected] van Weerden (kwaliteitszorg)E: [email protected] Evers (computerprogramma lovs)E: [email protected]