NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave...

68
NASLAGWERK METROLOGIE Equivalenten, conversies, geometrische- tolerantiesymbolen, hardheidsvergelijkingen, driehoeksoplossingen, meting, ruwheidsmeting, thermische uitzetting NEDERLANDSE EDITIE

Transcript of NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave...

Page 1: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

NASLAGWERK METROLOGIEEquivalenten, conversies, geometrische- tolerantiesymbolen,

hardheidsvergelijkingen, driehoeksoplossingen, meting, ruwheidsmeting, thermische uitzetting

NED

ERLAN

DSE EDITIE

Page 2: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04
Page 3: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag01

Inhoudsopgave

Microns begrijpen 02

Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03

Conversies 04

Oplossen van de driehoek 05

Meting 06

Internationale productnormen 09

Terminologie 14

Geometrische-tolerantiesymbolen 38

Rondheid definiëren 41

Hardheidsschalen 45

Snelgids voor oppervlaktegesteldheidmeting 51

Voorwaarden voor ruwheidsmetingen 56

Thermische uitzettingscoëfficiënt (TUC) 59

Materiaalkenmerken van eindmaten 61

Graden van eindmaten 62

Aantekeningen 64

Page 4: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag02

Microns begrijpen

Micron (micrometer)1 µm / 0,001 mm

Roetdeeltje2,5 µm

25 µm

Ongeveer het kleinste object zichtbaar voor het menselijke oog

40 µm

Doorsnede van een haar75 µm

Stofdeeltje4 µm

Wist u dat?Een stalen eindmaat van 100 mm zet met 11 µm uit bij een temperatuurtoename van 20° C naar 30° C.

Schaal 1500:1

Page 5: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag03

Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen

Hoofdletters Α Β Γ Δ Ε Ζ Η Θ

Kleine letters α β γ δ ε ζ η θ

Naam Alfa Bèta Gamma Delta Epsilon Zèta Èta Thèta

Hoofdletters Ι Κ Λ Μ Ν Ξ Ο Π

Kleine letters ι κ λ μ ν ξ o π

Naam Iota Kappa Lambda Mu Nu Xi Omicron Pi

Hoofdletters Ρ Σ Τ Υ Φ Χ Ψ Ω

Kleine letters ρ σ τ υ φ Χ ψ ω

Naam Rho Sigma Tau Epsilon Phi Chi Psi Omega

+ plus / optellen- minus / aftrekken± plus of minx vermenigvuldigen / keer÷ delen/ delen= is numeriek gelijk aan≡ is identiek of gelijkwaardig aan≠ is niet gelijk aan≈ is ongeveer gelijk is aan∝ is evenredig aan~ is in de orde van> is groter dan< is kleiner dan≥ is groter dan of gelijk aan≤ is kleiner dan of gelijk aan

>> is veel groter dan<< is veel kleiner dan

Σ de som van de aangegeven termen

Πhet product van de aangegeven termen

Δ eindige verschil of increment∴ daarom∠ hoek// evenwijdig aan⊥ loodrecht op: staat tot

√x vierkantswortel van x√x nde wortel van x→ nadert de limiet∞ oneindigheidn

Page 6: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag04

Conversies

nm µm mm cm dm m km

1 nm 1 0,001 10-6 10-7 10-8 10-9 10-12

1 µm 1000 1 0,001 10-4 10-5 10-6 10-9

1 mm 106 1000 1 0,1 0,01 0,001 10-6

1 cm 107 10000 10 1 0,1 0,01 10-5

1 dm 108 100000 100 10 1 0,1 10-4

1 m 109 106 1000 100 10 1 0,001

1 km 1012 109 106 100000 10000 1000 1

in ft yd µm mm m

1 in 1 0,08333 0,02778 25400 25,4 0,0254

1 ft 12 1 0,3333 304800 304,8 0,3048

1 yd 36 3 1 914400 914,4 0,9144

1 µm 3,937 × 10-5 3,281 × 10-6 1,094 × 10-6 1 0,001 10-6

1 mm 0,03937 3,281 × 10-3 1,094 × 10-3 1000 1 0,001

1 m 39,37 3,281 1,094 106 1000 1

Frac inch mm Dec inch1/64 0,397 0,01561/32 0,794 0,03121/16 1,588 0,06251/8 3,175 0,1251/4 6,35 0,25

Frac inch mm Dec inch3/8 9,525 0,3751/2 12,7 0,53/4 19,05 0,751 25,4 1,0

> Fractionele / decimale equivalenten

> Metrische eenheden en Anglo-Amerikaanse eenheden

> Metrische lengte-eenheden

Page 7: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag05

Oplossen van de driehoek

> Sinusregel

sin α : sin β: sin γ = a: b: c

> Cosinusregel

a2 = b2 + c2 - 2 bc · cos αb2 = c2 + a2 - 2 ac · cos βc2 = a2 + b2 - 2 ab · cos γ

> Oplossing van de stompe driehoek

> Oplossen van de rechthoekige driehoek

b sin β

a =

a sin α

b =

a sin α

c =

c sin γ

c sin γ

b sin β

sin α =

sin β =

sin γ =

sin α

sin β

sin γ c

γ

α

β

a

b

> De rechthoekige driehoek

a

α

β

b

c

γ

> Oppervlakte

1 2

1 2

1 2

A = bc sin α = ac sin β = ab sin γ

Overst.rechth.zijde Schuine zijde

a c

sin α ==

Aanligg.rechth.zijde Schuine zijde

b c

cos α ==

Overst.rechth.zijde Aanligg.rechth.zijde

Aanligg.rechth.zijde Overst.rechth.zijde

a b

b a

tan α

cot α

=

=

=

=

Page 8: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag06

Meting

Oppervlakte van een cirkel:

Omtrek van een cirkel:U = π · d

Oppervlakte van een trapezium:

Oppervlakte van een driehoek:

Zijde van een vierkant in een cirkel:

Zijde van een gelijkzijdige driehoek in een cirkel:

d

a

b

ha

h

d a

a

d

π d2

4A =

a + b 2

A = · h

a · h 2

A =

d 2

a =

d · 3 2

a =

Page 9: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag07

Meting

Diameter van een cirkel in een gelijkzijdige driehoek:

Oppervlakte van een regelmatige zeshoek:

Hoeklengte van een regelmatige zeshoek:d = 2 · a

Diameter van een cirkel in een regelmatige zeshoek:d = a · 3

Zijde van een regelmatige zeshoek in een cirkel:

Oppervlakte van een ellips:

a

d

d a

a

d

a

dd

D

d 2

a =

π · D · d 4

A =

a · 33

d =

3 · a2 · 32

A =

Page 10: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag08

Meting

Oppervlakte van een cilinder:

Volume van een cilinder:

Oppervlakte van een regelmatige vierzijdige piramide:A = a2 + a · 4 · h2 + a2

Volume van een regelmatige vierzijdige piramide:

Oppervlakte van een kegel:A = π · r · (r + m) m = h2 + r2

Volume van een kegel:

Oppervlakte van een bol:A = π · d2

Volume van een bol:

Oppervlakte van een torus:A = π2 · d · D

Volume van een torus:

h

d

h

a

h

d=2*r

d

D

d

π · d2 · h4

V =

a2 · h 3

V =

π · r2 · h3

V =

π · d3 6

V =

π2 · D · d2 4

V =

d 2

A = π · d · + h( )

Page 11: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag09

Internationale ProductnormenHa

ndge

reed

scha

p

Geometrische productspecificaties (GPS) - Dimensionele meetapparatuur - deel 1: Schuifmaten - ontwerp en metrologische kenmerken

EN ISO 13385-1

Geometrische productpecificaties (GPS) - Dimensionele meetapparatuur - deel 2: Diepteschuifmaat - ontwerp en metrologische kenmerken

EN ISO 13385-2

Geometrische productspecificaties (GPS) - Dimensionele meetapparatuur: Hoogtemeters - ontwerp en metrologische kenmerken.

EN ISO 13225

Geometrische productspecificaties (GPS) - Dimensionele meetapparatuur: Micrometers voor buitenmetingen - ontwerp en metrologische kenmerken

EN ISO 3611

Geometrische productspecificaties (GPS) - Dimensionele meetapparatuur: Mechanische meetklokken - ontwerp en metrologische kenmerken.

EN ISO 463

Geometrische productspecificaties (GPS) - Dimensionele meetapparatuur: Meetklok-testindicatoren (hendel) - ontwerp en metrologische kenmerken

EN ISO 9493

Geometrische productspecificaties (GPS) - Lengtestandaarden - eindmaten EN ISO 3650

Geometrische productspecificaties (GPS) - Dimensionele meetapparatuur: Elektronische digitale indicator - ontwerp en metrologische kenmerken.

EN ISO 13102

Page 12: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag10

Internationale productnormenO

pper

vlak

tege

stel

dhei

d

Geometrische productspecificaties (GPS) - Oppervlaktegesteldheid: Profiel methode-Nominale kenmerken van contactinstrumenten (taster)

EN ISO 3274

Geometrische productspecificaties (GPS) - Oppervlaktetextuur: Profielmethode - termen, definities en oppervlaktegesteldheidsparameters

EN ISO 4287

Geometrische productspecificaties (GPS) - Oppervlaktegesteldheid: Profielmethode - regels en procedures voor de beoordeling van de oppervlaktegesteldheid

EN ISO 4288

Geometrische productspecificaties (GPS) - Oppervlaktegesteldheid: Profielmethode - meetstandaarden - deel 1: Stoffelijke maten

EN ISO 5436

Geometrische productspecificaties (GPS) - Oppervlaktegesteldheid: Profielmethode - de metrologische kenmerken van fasecorrectiefilters

EN ISO 11562

Geometrische productspecificaties (GPS) - Oppervlaktegesteldheid: Profielmethode - oppervlak met gelaagde functionele eigenschappen - Deel 1: Filtering en algemene meetvoorwaarden

EN ISO 13565-1

Geometrische productspecificaties (GPS) - Oppervlaktegesteldheid: Profielmethode - oppervlak met gelaagde functionele eigenschappen - Deel 2: Beschrijving van de hoogte met behulp van de lineaire materiaalaandeelfunctie

EN ISO 13565-2

Geometrische productspecificaties (GPS) - Oppervlaktegesteldheid: Profielmethode - oppervlakken met gelaagde functionele eigenschappen - Deel 3: Beschrijving van de hoogte met behulp van de materiaalswaarschijnlijkheidsfunctie

EN ISO 13565-3

Geometrische productspecificaties (GPS) - Oppervlaktegesteldheid: Profielmethode - Motiefparameters

EN ISO 12085

Page 13: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag11

Internationale productnormenCo

ördi

nate

nmee

tmac

hine

s

Geometrische productspecificaties (GPS) - Aanvaardings- en ijktests voor coördinatenmeetmachines (CMM) - Deel 1: Woordenschat

EN ISO 10360-1

Geometrische productspecificaties (GPS) - Afname- en controlebeproeving voor coördinatenmeetmachines (CMM) - Deel 2: CMM's gebruikt voor het meten van lengtematen

EN ISO 10360-2

Geometrische productspecificaties (GPS) - Afname- en herkeuringsproeven voor coördinatenmeetmachines - Deel 3: CMM's met een draaitafel als vierde as

EN ISO 10360-3

Geometrische productspecificaties (GPS) - Aanvaardings- en ijktests voor coördinatenmeetmachines (CMM) - Deel 4: CMM's gebruikt in scanmodus

EN ISO 10360-4

Geometrische productspecificaties (GPS) - Afname- en herkeuringsproeven voor coördinatenmeetmachines (CMM) - Deel 5: CMM's die systemen met meervoudige tasters gebruiken

EN ISO 10360-5

Geometrische productspecificaties (GPS) - Afname- en herkeuringsproeven voor coördinatenmeetmachines (CMM) - Deel 6: Schatting van fouten in de berekening van Gaussische kenmerken

EN ISO 10360-6

Geometrische productspecificaties (GPS) - Afname- en herijkingsbeproevingen voor coördinatenmeetmachines (CMM) - Deel 7: CMM's uitgevoerd met sonderende beeldvormingssystemen

EN ISO 10360-7

Page 14: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag12

Internationale productnormenCo

ördi

nate

nmee

tmac

hine

s

Geometrische productspecificaties (GPS) - Beproevingen voor aanvaarding en hertoetsing voor coördinatenmeetmachines (CMM) - Deel 8: CMM's met optische afstandsopnemers.

EN ISO 10360-8

Geometrische productspecificaties (GPS) - Acceptatie - en hercontrolebeproeving voor coördinatenmeetmachines (CMM) - Deel 9: CMMs met meervoudige tastersystemen

EN ISO 10360-9

Geometrische productspecificaties (GPS) - Richtlijnen voor de evaluatie van coördinatenmeetmachines (CMM) test meetonzekerheid

ISO / TS 23165

Hard

heid

stes

tmac

hine

s

Metalen - Hardheidstest volgens Vickers - Deel 1: Testmethode EN ISO 6507-1

Metalen - Hardheidsmeting volgens Vickers - Deel 2: Verificatie en kalibratie van meettoestellen EN ISO 6507-2

Metalen - Hardheidsmeting volgens Vickers - Deel 3: IJking van standaard blokken EN ISO 6507-3

Metalen - Hardheidsmeting volgens Vickers - Deel 4: Tabellen en hardheidswaarden EN ISO 6507-4

Metalen - Hardheidsmeting volgens Rockwell - Deel 1: Beproevingsmethode EN ISO 6508-1

Metalen - Hardheidsmeting volgens Rockwell - Deel 2: Verificatie en kalibratie van meettoestellen EN ISO 6508-2

Page 15: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag13

Internationale productnormenHa

rdhe

idst

estm

achi

nes

Metalen materialen - Hardheidsmeting volgens Rockwell - Deel 3: IJking van standaardblokken EN ISO 6508-3

Kunststoffen - Hardheidsmeting - Deel 2: Rockwellhardheid EN ISO 2039-2

Metalen - Hardheidsmeting volgens Brinell - Deel 1: Beproevingsmethode EN ISO 6506-1

Metalen - Hardheidsmeting volgens Brinell - Deel 2: Kalibratie van meettoestellen EN ISO 6506-2

Metalen - Hardheidsmeting volgens Brinell - Deel 3: IJking van standaardblokken EN ISO 6506-3

Metalen - Hardheidsmeting volgens Brinell - Deel 4: Tabel van hardheidswaarden EN ISO 6506-4

Metalen - Hardheidsmeting volgens Knoop - Deel 1: Beproevingsmethode EN ISO 4545-1

Metalen - Hardheidsmeting volgens Knoop - Deel 2: Verificatie en ijking van beproevingsmachines EN ISO 4545-2

Metalen - Hardheidsmeting volgens Knoop - Deel 3: IJking van standaardblokken EN ISO 4545-3

Metalen - Hardheidsmeting volgens Knoop - Deel 4: Tabellen voor hardheidswaarden EN ISO 4545-4

Metallieke en soortgelijke deklagen - Beproeving van de microhardheid volgens Vickers en Knoop EN ISO 4516

Metalen - Conversie van hardheidswaarden EN ISO 18265

Page 16: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag14

Terminologie meetklok

Naald

RingW

ijzerplaat

Indicatie om

wentelingen

TolerantiemarkeringRingklem

Meetklokdeksel

Schacht

Meetstift (Spindel)

Tasterpunt

Bedieningsknoppen

Display

Beschermkap

Gegevensuitgang

Schaal

Page 17: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag15

Terminologie micrometer

Mee

tvla

kken

Fram

e

Aam

beel

dSp

inde

l

Trom

mel

Snel

vers

telli

ng

(Spe

eder

)

Huls

Spin

delb

lokk

erin

g

War

mte

isol

eren

de g

reep

Gege

vens

uitg

ang

Page 18: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag16

Terminologie schuifmaat

Meetvlakken voor

binnenmeting

Noniusschaal inch

Vaste bek

Meetvlakken voor

buitenmetingen

Beweegbare bek

Noniusschaal metrisch

Kleminrichting

SledeGeleiding

HoofdschaalDieptem

aat

Meetvlakken voor

dieptemeting

Page 19: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag17

Terminologie eindmaten

Mee

topp

ervl

ak

links

Mee

topp

ervl

akge

mar

keer

d

Mee

topp

ervl

akon

gem

arke

erd

Zijv

lakk

en

Zijv

lak

gem

arke

erd

Mee

topp

ervl

ak

rech

ts

Page 20: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag18

Terminologie hoogtemeters

Tasterverlenging

Meetvlak

Referentievoet instrument

Kolom

Geleiding

Vergrendeling

Hoofdschaal

Meet- en schrijftaster

Noniusschaal

Fijnafstelling

SchuifInstrumentvoet

Tasterklem

Page 21: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag19

Terminologie 2-punts binnenmicrometer

Verb

indi

ngsp

unt

verle

ngst

ukke

n

Bew

eegb

are

deel

va

n M

icrom

eter

Aam

beel

dSt

amGe

geve

nsui

tgan

g

Spin

delb

lokk

erin

g

Vast

dee

l van

m

icrom

eter

HulsTr

omm

el Aam

beel

d

Mee

tvla

kken

Page 22: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag20

Nomenclatuur 3-punts binnenmicrometer

Ratelstop

Tromm

el

Schaal

Meetkop

Contactlijn/Meetpunt

Weergeven

Verbindingspunt voor verlengstukken

HulsGegevensuitgang

Meetpin/M

eetpunt

Page 23: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag21

Terminologie 2-punts binnenmeetinstrumenten

Vast

mee

tpun

t

Mee

tkop

Bew

eegb

aar

cont

actp

unt

Cent

reer

brug

Mee

tvla

kCo

ntac

tpun

t

Verle

ngin

g

Ther

misc

h ge

ïsole

erde

grip

Klem

min

g

Besc

herm

ings

kap

Mee

tklo

k op

nem

er

Gesp

lete

n m

eetk

op

Page 24: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag22

Terminologie diepteschuifmaat

Meetbasis

Meetvlak

Schuif Blokkeerschroef

StaafHoofdschaal

Fijnafstelling

Noniusschaal metrisch

Page 25: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag23

Terminologie dieptemicrometer

Mee

tbas

is

Mee

tstif

t

Trom

mel

Mee

tvla

kken

Snel

vers

telli

ng

Huls

Page 26: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag24

Terminologie meetklok

Naald

Behuizing

Draaipuntinstelling

Magneetstatief

Schaalverdeling

Schaal

Wijzerplaat

Taster

Tasterpunt

Page 27: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag25

Terminologie kop micrometer

Mee

tvla

k

Scha

cht An

alog

e sc

haal

Snel

vers

telli

ng

Spin

del

Klem

moe

rHu

lsTr

omm

el

Page 28: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag26

Terminologie hardheidstester

MeetsysteemVerlichting

Indruklichaam

Spindel

Display

KolomO

bjectieflens

Page 29: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag27

Terminologie voor meetmachine rondheid en cilindriciteit

Dete

ctor

Tast

er

Mid

delp

untz

oeke

nde

uitli

jnin

gsta

fel

Z-as

kol

om

Knop

pen

voor

au

tom

atisc

he

cent

rere

n en

leve

len

X-as

arm

X-as

fijn

safs

telli

ng

Joys

tick-

bedi

enin

g

Posit

iem

eter

Vert

icale

fijn

afst

ellin

g

Page 30: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag28

Terminologie voor contourmeetmachine

Z2-as kolom

X-as

Waterpas

Z1-as detectorTaster

Positioneringsplaat

Z-as fijnafstelling

X-as fijnsafstellingKantelafstelling

Gewicht

Joystick

Voet

Arm

Page 31: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag29

Terminologie voor oppervlakteruwheidstester

Aand

rijvi

ng

Tast

erDete

ctor

Inge

bouw

de p

rinte

r

Druk

toet

sen

Hoog

te-a

anpa

ssin

g

Op-

/nee

rkno

p

Behu

izin

g

Aanr

aakp

anee

l

Page 32: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag30

Terminologie meetmicroscoop

Teller

Snelblokkering

Camera-aansluiting

Oculair

Z-as wiel (links / rechts)

(Power) Kolom

Objectieflens

Meettafel

Bedieningspaneel

Page 33: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag31

Terminologie 3-D visie meetsysteem

Ring

verli

chtin

g

Obj

ectie

flens

Mee

ttaf

el

Stan

daar

d

Afst

ands

bedi

enin

g

PC (v

oor

soft

war

e)

Hoof

duni

t

Mon

itor

Page 34: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag32

Zoomlens

Meettafel

Noodstop

Afstandsbediening (optioneel)

Hoofdunit

Monitor PC (voor softw

are)

Terminologie 3-D vision meetsysteem met kleurencamera

Page 35: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag33

Terminologie handmatig 2-D vision meetsysteem met kleurencamera

Tele

cent

risch

e le

ns

Scha

kelk

nop

mee

tmod

us

Z-as

wie

l (lin

ks /

rech

ts)

Mee

ttaf

el

Snel

blok

kerin

g

Aan/

uit-s

chak

elaa

r

Page 36: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag34

Terminologie projector

Oppervlakteverlichting

Projectiescherm

Aan/uit-schakelaar

TellerdisplayProjectielens

Meettafel (XY)

Verlichtingsbedieningsknop

Contourverlichting

Page 37: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag35

Coördinatenmeetmachine met beweegbare poort

Hefb

oom

Z-a

s

Joys

tick-

be

dien

ing

Y-as

Bedi

enin

g

X-as

Bew

eegb

are

poor

t (Br

ug)

Draa

ibar

e m

eetk

op

CMM

-voe

t wer

kstu

ktaf

el

Z

X Y

Page 38: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag36

Coördinatenmeetmachine met vaste poort

Joystick-bediening

Vaste meetkop

Beweegbare w

erkstuktafel Y-as

Bediening

Poort (vast)

Rotatie-as (4e as)

Hefboom Z-as

CMM

-voet

Z

X Y

X-as

Page 39: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag37

Coördinatenmeetmachine: vaste meetkop

Hefb

oom

Vast

e m

eetk

op

Tast

ersy

stee

m{

Tast

erve

rleng

stuk

Tast

punt

Page 40: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag38

Geometrische-tolerantiesymbolen

Rechtheid

Vlakheid

Rondheid

Cilindriciteit

Profielzuiverheid

Parallelliteit

Haaksheid

Hoekzuiverheid

Profielzuiverheid

Plaatszuiverheid

Concentriciteit of coaxialiteit

Symmetrie

Profiel

Radiale slag

Totale slag

Vormtoleranties

Richtingtoleranties

Positietoleranties

Slagtoleranties

Opmerking:EN ISO 1101 Geometrische productspecificaties (GPS). Geometrische toleranties. Toleranties voor vorm, oriëntatie, locatie en uitloop moeten worden geraadpleegd voor de volledige details.

Page 41: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag39

0,1

Geometrische-tolerantiesymbolen

> Gebruiksvoorbeelden

Rechtheid Rondheid

Profielzuiverheid van een lijn Profielzuiverheid van een oppervlak

Vlakheid Parallelliteit

Symmetrie Concentriciteit of coaxialiteit

Page 42: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag40

0,01

Ø

Interpretatie: Oppervlak ligt tussen 2 concentrische cirkels met een radiusverschil van 0,01 mm Tolerantie formaat

Tolerantie FORM 0,01Min ØMax Ø

Oppervlakte

0,15Interpretatie: Oppervlak ligt tussen 2 parallelle vlakken met 0,15 mm tussenruimte loodrecht op referentievlak A Referentievlak A

Oppervlak

Tolerantie ORIËNTATIE 0.15 mm

0,5

20º 20º

Interpretatie: Oppervlak ligt tussen 2 parallelle vlakken met 0,5 mm tussenruimte die een hoek van 20 graden vormen met referentie A

Referentievlak A

Tolerantie ORIËNTATIE 0.5 mm

0,02

Ø

Interpretatie: Elke lijn op het oppervlak ligt tussen 2 cirkels concentrisch met referentie A en een radiusverschil van 0,02 mm in normaalrichting op het oppervlak

Referentie-as A

Roteren

Tolerantie LOCATIE 0,02 mm

Geometrische-tolerantiesymbolen

> Interpretatievoorbeelden

Cilindriciteit

Haaksheid

Hoekzuiverheid

Radiale slag

Page 43: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag41

Rondheid definiëren

Afwijking van perfecte rondheid is bepaald door het verschil in radii van twee coplanaire en concentrische referentiecirkels waarvan de afmetingen en het middelpunt worden geconstrueerd door één van vier methoden (hieronder beschreven) nadat de omtrekslijn is onttrokken. De diagrammen tonen hoe de verkregen afwijkingswaarde wordt beïnvloed door de gebruikte methode.

Minimum zone cirkel (MZCI)

De grootte en positie van twee concentrische, rakende cirkels en die samen de onttrokken omtreklijn omsluiten, worden aangepast totdat hun radiale verschil minimaal is.

90°

180°

270°

Onttrokken omtreklijn

4,88 µm

Middelpunt referentiecirkel

Kleinste kwadraten cirkel (LSCI)

De grootte en positie van een cirkel waarvan de som van de kwadraten van de radiale afwijkingen van de onttrokken omtreklijn minimaal is, wordt geconstrueerd. Twee concentrische cirkels coaxiaal met deze cirkel worden vervolgens geconstrueerd zodat ze samen de onttrokken omtreklijn omsluiten.

90°

180°

270°

Least squared circle

5,38 µm

Page 44: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag42

Rondheid definiëren

Grootste ingeschreven cirkel (MICI)

Een getekende cirkel van de maximale grootte van de onttrokken omtreklijn, is opgebouwd. Een tweede cirkel concentrisch met de eerste wordt vervolgens geconstrueerd om de onttrokken omtreklijn te raken en die, samen met de eerste cirkel, te omsluiten.

90°

180°

270°

Maximum inscribed circle

5,49 µm

Kleinste omgeschreven cirkel (MCCI)

Een omsluitende cirkel van de minimale grootte die de onttrokken omtreklijn raakt en omsluit, wordt opgebouwd. Een tweede cirkel concentrisch met de eerste wordt vervolgens geconstrueerd om de onttrokken omtreklijn te raken en, samen met de eerste cirkel, te omsluiten.

90°

180°

270°

Minimum circumscribed circle

5,27 µm

Page 45: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag43

Rondheid definiëren

Belangrijke assen voor rondheids-/cilindervormigheidsmeting

Het middelpunt van de concentrische cirkels definieert het centrum van de onttrokken omtreklijn en derhalve de locatie van de gemeten circulaire functie. Elk van de bovenstaande resultaten geeft verschillende middelpunten voor de referentiecirkels beschreven, zoals aangetoond.

MZCI

LSCIMCCI

MICI

90°

180°

270°

Page 46: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag44

Filtering

Het opgenomen profiel kan op verschillende manieren worden gefilterd in lagen om zo ongewenste meetpunten te verminderen of te verwijderen, met een cut-off waarde ingesteld als golving per omwenteling (Undulations Per Revolution of UPR). De impact van verschillende UPR-instellingen wordt weergegeven in de onderstaande meetvoorstellingen gebaseerd op een 50% Gauss-filter fase compensatie. Deze meetvoorstellingen illustreren de impact op de rondheidswaarde bij verschillende UPR-instellingen. Naarmate de UPR waarde afneemt zullen de onzuiverheden ook worden gefilterd en wordt het profiel geëgaliseerd.

4,88 µm

90°

180°

270°

4,06 µm

90°

180°

270°

3,73 µm

90°

180°

270°

2,87 µm

90°

180°

270°

Geen filter 150 upr

50 upr 15 upr

Rondheid definiëren

Page 47: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag45

Hardheidsschalen

VICKERSHV 10

ROCKWELL ROCKWELL SUPERFICIAL HR A HR C HR D HR 15N HR 30N HR 45N diamant diamant

BRINELLHBW

10/3000

TREK-STERKTEN / mm2

240 60,7 20,3 40,3 69,6 41,7 19,9 224 770245 61,2 21,3 41,1 70,1 42,5 21,1 230 785250 61,6 22,2 41,7 70,6 43,4 22,2 236 800255 62,0 23,1 42,2 71,1 44,2 23,2 242 820

Alle hardheidsmetingen zijn methode-afhankelijk. Echter, de onderstaande tabellen geven bij benadering de gelijkwaardigheid aan tussen de verschillende, veelgebruikte hardheidsschalen. (Mitutoyo specificatie)

> Gehard staal en harde legeringen

Page 48: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag46

Hardheidsschalen

VICKERSHV 10

ROCKWELL ROCKWELL SUPERFICIAL HR A HR C HR D HR 15N HR 30N HR 45N diamant diamant

BRINELLHBW

10/3000

TREK-STERKTEN / mm2

260 62,4 24,0 43,1 71,6 45,0 24,3 247 835265 62,7 24,8 43,7 72,1 45,7 25,2 252 850270 63,1 25,6 44,3 72,6 46,4 26,2 257 865275 63,5 26,4 44,9 73,0 47,2 27,1 261 880280 63,8 27,1 45,3 73,4 47,8 27,9 266 900285 64,2 27,8 46,0 73,8 48,4 28,7 271 915290 64,5 28,5 46,5 74,2 49,0 29,5 276 930295 64,8 29,2 47,1 74,6 49,7 30,4 280 950300 65,2 29,8 47,5 74,9 50,2 31,1 285 965310 65,8 31,0 48,4 75,6 51,3 32,5 295 995320 66,4 32,2 49,4 76,2 52,3 33,9 304 1030330 67,0 33,3 50,2 76,8 53,6 35,2 314 1060340 67,6 34,4 51,1 77,4 54,4 36,5 323 1095350 68,1 35,5 51,9 78,0 55,4 37,8 333 1125360 68,7 36,6 52,8 78,6 56,4 39,1 342 1155370 69,2 37,7 53,6 79,2 57,4 40,4 352 1190380 69,8 38,8 54,4 79,8 58,4 41,7 361 1220390 70,3 39,8 55,3 80,3 59,3 42,9 371 1225400 70,8 40,8 56,0 80,8 60,2 44,1 380 1290410 71,4 41,8 56,8 81,4 61,1 45,3 390 1320420 71,8 42,7 57,5 81,8 61,9 46,4 399 1350430 72,3 43,6 58,2 82,3 62,7 47,4 409 1385440 72,8 44,5 58,8 82,8 63,5 48,4 418 1420450 73,3 45,3 59,4 83,2 64,3 49,4 428 1455460 73,6 46,1 60,1 83,6 64,9 50,4 437 1485470 74,1 46,9 60,7 83,9 65,7 51,3 447 1520480 74,5 47,7 61,3 84,3 66,4 52,2 (456) 1555490 74,9 48,4 61,6 84,7 67,1 53,1 (466) 1595500 75,3 49,1 62,2 85,0 67,7 53,9 (475) 1630

Page 49: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag47

Hardheidsschalen

VICKERSHV 10

ROCKWELL ROCKWELL SUPERFICIAL HR A HR C HR D HR 15N HR 30N HR 45N diamant diamant

BRINELLHBW

10/3000

TREK-STERKTEN / mm2

510 75,7 49,8 62,9 85,4 68,3 54,7 (485) 1665520 76,1 50,5 63,5 85,7 69,0 55,6 (494) 1700530 76,4 51,1 63,9 86,0 69,5 56,2 (504) 1740540 76,7 51,7 64,4 86,3 70,0 57,0 (513) 1775550 77,0 52,3 64,8 86,6 70,5 57,8 (523) 1810560 77,4 53,0 65,4 86,9 71,2 58,6 (532) 1845570 77,8 53,6 65,8 87,2 71,7 59,3 (542) 1880580 78,0 54,1 66,2 87,5 72,1 59,9 (551) 1920590 78,4 54,7 66,7 87,8 72,7 60,5 (561) 1955

0-600 78,6 55,2 67,0 88,0 73,2 61,2 (570) 1995610 78,9 55,7 67,5 88,2 73,7 61,7 (580) 2030620 79,2 56,3 67,9 88,5 74,2 62,4 (589) 2070630 79,5 56,8 68,3 88,8 74,6 63,0 (599) 2105640 79,8 57,3 68,7 89,0 75,1 63,5 (608) 2145650 80,0 57,8 69,0 89,2 75,5 64,1 (618) 2180660 80,3 58,3 69,4 89,5 75,9 64,7 — —670 80,6 58,8 69,8 89,7 76,4 65,3 — —680 80,8 59,2 70,1 89,8 76,8 65,7 — —690 81,1 59,7 70,5 90,1 77,2 66,2 — —700 81,3 60,1 70,8 90,3 77,6 66,7 — —720 81,8 61,0 71,5 90,7 78,4 67,7 — —740 82,2 61,8 72,1 91,0 79,1 68,6 — —760 82,6 62,5 72,6 91,2 79,7 69,4 — —780 83,0 63,3 73,3 91,5 80,4 70,2 — —800 83,4 64,0 73,8 91,8 81,1 71,0 — —820 83,8 64,7 74,3 92,1 81,7 71,8 — —840 84,1 65,3 74,8 92,3 82,2 72,2 — —860 84,4 65,9 75,3 92,5 82,7 73,1 — —880 84,7 66,4 75,7 92,7 83,1 73,6 — —

Page 50: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag48

Hardheidsschalen

ROCKWELL HR B HR A HR F HR-E 1,5875 mm 1,5875 mm 3,175 mm

kogel diamant kogel kogel

ROCKWELL SUPERFICIAL HR 15T HR 30T HR 45T 1,575 mm kogel

VICKERSHV/10

BRINELLHBW

10/3000

100 61,5 — — 93,1 83,1 72,9 240 224 99 60,9 — — 92,8 82,5 71,9 234 218 98 60,2 — — 92,5 81,8 70,9 228 212

97 59,5 — — 92,1 81,1 69,9 222 20896 58,9 — — 91,8 80,4 68,9 216 20595 58,3 — — 91,5 79,8 67,9 210 20194 57,6 — — 91,2 79,1 66,9 205 19693 57,0 — — 90,8 78,4 65,9 200 19392 56,4 — — 90,5 77,8 64,8 195 18991 55,8 — — 90,2 77,1 63,8 190 18290 55,2 — — 89,9 76,4 62,8 185 17789 54,6 — — 89,5 75,8 61,8 180 17288 54,0 — — 89,2 75,1 60,8 176 16587 53,4 — — 88,9 74,4 59,8 172 16586 52,8 — — 88,6 73,8 58,8 169 16385 52,3 — — 88,2 73,1 57,8 165 16084 51,7 — — 87,9 72,4 56,8 162 15783 51,1 — — 87,6 71,8 55,8 159 155

> Ongehard staal en de meeste non-ferrometalen

VICKERSHV 10

ROCKWELL ROCKWELL SUPERFICIAL HR A HR C HR D HR 15N HR 30N HR 45N diamant diamant

BRINELLHBW

10/3000

TREK-STERKTEN / mm2

900 85,0 67,0 76,1 92,9 83,6 74,2 — —920 85,3 67,5 76,5 93,0 84,0 74,8 — —940 85,6 68,0 76,9 93,2 84,4 75,4 — —

Page 51: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag49

Hardheidsschalen

ROCKWELL HR B HR A HR F HR-E 1,5875 mm 1,5875 mm 3,175 mm

kogel diamant kogel kogel

ROCKWELL SUPERFICIAL HR 15T HR 30T HR 45T 1,575 mm kogel

VICKERSHV/10

BRINELLHBW

10/3000

82 50,6 — — 87,3 71,1 54,8 156 15381 50,0 — — 86,9 70,4 53,8 153 15180 49,5 — — 86,6 69,7 52,8 150 14979 48,9 — — 86,3 69,1 51,8 147 14678 48,4 — — 86,0 68,4 50,8 144 14477 47,9 — — 85,6 67,7 49,8 141 14176 47,3 — — 85,3 67,1 48,8 139 13975 46,8 99,6 — 85,0 66,4 47,8 137 13774 46,3 99,1 — 84,7 65,7 46,8 135 13573 45,8 98,5 — 84,3 65,1 45,8 132 13272 45,3 98,0 — 84,0 64,4 44,8 130 13071 44,8 97,4 100,0 83,7 63,7 43,8 127 12870 44,3 96,8 99,5 83,4 63,1 42,8 127 12769 43,8 96,2 99,0 83,0 62,4 41,8 125 12568 43,3 95,6 98,0 82,7 61,7 40,8 123 12367 42,8 95,1 97,5 82,4 61,0 39,8 121 12166 42,3 94,5 97,0 82,1 60,4 38,7 119 11965 41,8 93,9 96,0 81,8 59,7 37,7 117 11764 41,4 93,4 95,5 81,4 59,0 36,7 116 11663 40,9 92,8 95,0 81,1 58,4 35,7 114 11462 40,4 92,2 94,5 80,8 57,7 34,7 112 11061 40,0 91,7 93,5 80,5 57,0 33,7 110 10760 39,5 91,1 93,0 80,1 56,4 32,7 108 10659 39,0 90,5 92,5 79,8 55,7 31,7 107 10458 38,6 90,0 92,0 79,5 55,0 30,7 106 10257 38,1 89,4 91,0 79,2 54,4 29,7 104 9956 37,7 88,8 90,5 78,8 53,7 28,7 103 —55 37,2 88,2 90,0 78,5 53,0 27,7 101 —54 36,8 87,7 89,5 78,2 52,4 26,7 100 —

Page 52: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag50

Hardheidsschalen

ROCKWELL HR B HR A HR F HR-E 1,5875 mm 1,5875 mm 3,175 mm

kogel diamant kogel kogel

ROCKWELL SUPERFICIAL HR 15T HR 30T HR 45T 1,575 mm kogel

VICKERSHV/10

BRINELLHBW

10/3000

53 36,3 87,1 89,0 77,9 51,7 25,7 — —52 35,9 86,5 88,0 77,5 51,0 24,7 — —51 35,5 86,0 87,5 77,2 50,3 23,7 — —50 35,0 85,4 87,0 76,9 49,7 22,7 — —49 34,6 84,8 86,5 76,6 49,0 21,7 — —48 34,1 84,3 85,5 76,2 48,3 20,7 — —47 33,7 83,7 85,0 75,9 47,7 19,7 — —46 33,3 83,1 84,5 75,6 47,0 18,7 — —45 32,9 82,6 84,0 75,3 46,3 17,7 — —44 32,4 82,0 83,5 74,9 45,7 16,7 — —43 32,0 81,4 82,5 74,6 45,0 15,7 — —42 31,6 80,8 82,0 74,3 44,3 14,7 — —41 31,2 80,3 81,5 74,0 43,7 13,6 — —40 30,7 79,7 81,0 73,6 43,0 12,6 — —39 30,3 79,1 80,0 73,3 42,3 11,6 — —38 29,9 78,6 79,5 73,0 41,6 10,6 — —37 29,5 78,0 79,0 72,7 41,0 9,6 — —36 29,1 77,4 78,5 72,3 40,3 8,6 — —35 28,7 76,9 78,0 72,0 39,6 7,6 — —34 28,2 76,3 77,0 71,7 39,0 6,6 — —33 27,8 75,7 76,5 71,4 38,3 5,6 — —32 27,4 75,2 76,0 71,0 37,6 4,6 — —31 27,0 74,6 75,5 70,7 37,0 3,6 — —30 26,6 74,0 75,0 70,4 36,3 2,6 — —

Opmerking: Voorzichtigheid is geboden bij het vergelijken van hardheidswaarden aangezien de vorm en het type van het werkstuk de meting kan beïnvloeden. Bijvoorbeeld een gehard stalen werkstuk kan gevoelig zijn voor indrukkingsdiepte. Daarom mag de werkwijze voor het meten van hardheid aangegeven in productdocumentatie niet worden vervangen door een alternatieve methode zonder eerst met de productontwerper te overleggen.

Page 53: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag51

Snelgids voor oppervlaktetextuurmeting

1. Oppervlakteprofielen

Werkelijke profielHet profiel als gevolg van de aantasting van het werkstukoppervlak in een vlak loodrecht op dat oppervlak en in een richting die de oppervlakteruwheidswaarde (meestal in de richting loodrecht op het oppervlak) maximaliseert.

Gemeten profielHet profielresultaat na scannen van het werkelijke profiel met een mechanische taster die dit profiel filtert afhankelijk van de sonderadius en, indien aanwezig, van de glijschoen van het tastsysteem. Kras- en deukcomponenten worden verwijderd omdat ze geen deel uitmaken van het profiel.

Primaire profiel (P-profiel)Het profielresultaat na het filteren van de gemeten profiel verwijdert alle data van golflengtes die te kort zijn om relevant te zijn voor de oppervlaktegesteldheidsanalyse. Parameters worden aangegeven door P+achtervoegsel (Pa, Pc, Pt, Pz, etc).

> Gemiddeldelijn toont de golving en de vorm.

Ruwheidsprofiel (R-profiel)Het oppervlakteprofiel na het filteren van het Primaire profiel (om golf- en vormgolflengten te verwijderen. Parameters worden aangegeven door R+achtervoegsel (Ra, Rc, Rt, Rz, etc).

> Golving en vorm uitgefilterd, toont alleen ruwheid.

Page 54: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag52

Snelgids voor oppervlaktetextuurmeting

Zt1

Zt2

Zt3

Zt4

Zt5

Zt6

Zt7

Zv1

Rz

SteekproeflengteZ

X

Zp-waarde

Ruwheids-profiel, Zx

Gemiddelde

!"#$%%&'(

Zv-waarde

Beoordelingslengte (normaal gesproken 5 steekproeflengtes)

Rt

Zp1

Zp2 Zp

3

Zp4

Zp5 Zp6

Zp7

Zv2

Zv3 Zv

4

Zv5

Zv6

Zv7

Xs1 Xs2 Xs3 Xs4 Xs5 Xs6 Xs7

Golvingsprofiel (W-profiel)Het oppervlakteprofiel na het filteren van het Primaire profiel (om Ruwheids- en Vormgolflengten te verwijderen. Parameters worden aangegeven door W+achtervoegsel (Wa, Wc, Wt, Wz, etc).

> Eerste- fasefiltering verwijdert ruwheid en laat golf en vorm intact.

> Tweede-fasefiltering verwijdert vorm waardoor alleen golving overblijft.

2. Enkele veel voorkomende parameters

> Een typisch profiel (ruwheid).

Page 55: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag53

Snelgids voor oppervlaktetextuurmeting

Rekenkundig gemiddelde afwijking van het profiel: Pa, Ra of WaHet rekenkundig gemiddelde van de absolute profiel Z (x) waarden binnen een steekproeflengte.

l = lp, lr of lw Volgens primaire, ruwheids- of golvingsprofiel

Wortel van de gemiddelde kwadratische afwijking van het profiel: Pq, Rq of WqDe wortel van het gemiddelde kwadraat van de profielwaarden Z (x) binnen een basismeetlengte.

l = lp,lr of lw Volgens primair, ruwheids- of golfprofiel

Totale hoogte van het profiel: Pt, Rt of WtDe som van de hoogste piek Zp, en het diepste dal Zv, binnen de basismeetlengte.

Maximale hoogte van het profiel: Pz, Rz of WzDe som van de hoogste piek Zp en het diepste dal Zv binnen een basismeetlengte.

Gemiddelde breedte van profielelementen: PSm, RSm of WSmDe gemiddelde waarde van de profielelementbreedten Xs binnen een basismeetlengte.

Indien niet anders vermeld, is de minimale hoogte van elementen die moeten worden opgenomen respectievelijk 10% van de Pz, Rz of Wzr, met een minimale afstand van 1% van de steekproeflengte.

1Pa, Ra, Wa = — ∫ Z(x) dxl

l

0

1Pq, Rq, Wq = — ∫ Z2(x) dxl

l

0

1PSm, RSm, WSm = — Xsim

m

i = 1

Page 56: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag54

Gemiddelde breedte van profielelementen: Pcthema's Rc of WcDe gemiddelde waarde van de hoogten van profielelement Zt binnen een basismeetlengte.

Indien niet anders vermeld, is de minimale hoogte van elementen die moeten worden opgenomen respectievelijk 10% van de Pz, Rz of Wz, met een minimale afstand van 1% van de steekproeflengte.

3. Ruwheidswaarde / -graad

De verhouding tussen oppervlakruwheidswaarden en -graden, volgens ISO 1302, wordt weergegeven in onderstaande tabel.

1Pc, Rc, Wc = — Ztim

m

i = 1

RuwheidswaardeRuwheidsgraadMicrometer (µm) Microinch (µinch)

50 2000 N1225 1000 N11

12,5 500 N106,3 250 N93,2 125 N81,6 63 N70,8 32 N60,4 16 N50,2 8 N40,1 4 N3

0,05 2 N20,025 1 N1

Snelgids voor oppervlaktetextuurmeting

Page 57: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Pag55

Naslagwerk Metrologie

Snelgids voor oppervlaktetextuurmeting

Niet-periodieke profielen Periodieke profielen

Meetomstandigheden conform EN ISO 4288 en EN ISO 3274

Slijpen, honen, lappen, EDMDraaien, frezen,

hobbing

rtip Maximale tasterpuntradiusIr BasismeetlengteIn EvaluatielengteIt Tasterverplaatsing (evaluatielengte plus begin- en eindlengtes)

Rtthema's Rzµm

Raµm

RSmmm

rtip

µmλc = Ir

mmIn

mmIt

mm

> 0,025 ... 0,1 > 0,006 ... 0,02 > 0,013 ... 0,04 2 0,08 0,4 0,48> 0,1 ... 0,5 > 0,02 ... 0,1 > 0,04 ... 0,13 2 0,25 1,25 1,5> 0,5 ... 10 > 0,1 ... 2 > 0,13 ... 0,4 2* 0,8 4 4,8> 10 ... 50 > 2 ... 10 > ,04 ... 1,3 5 2,5 12,5 15> 50 ... 200 > 10 ... 80 > 1,3 ... 4 10 8 40 48

* Wanneer Rz > 3 µm of Ra > 0,5 µm een tasterpuntradius (rtip) = 5 µm kan worden gebruikt.

Instellingen voor ruwheidsmeting (EN ISO 4288)

Opmerking:Deze sectie is gebaseerd op EN ISO 4287, die dient te worden geraadpleegd voor gedetailleerde uitleg.

Page 58: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag56

Ruwheidsmeetomstandigheden (EN ISO 4288)Bovendien, de meetpuntafstand Δx en de cutoff-golflengte λs van de low-passfilter zijn gestandaardiseerd. Echter, deze waarden zijn al ingesteld in de ruwheidsmeettoestellen.Praktische tip 1: Als er onvoldoende ruimte op het werkstuk is voor de gewenste verplaatsingslengte, lt kan de hoeveelheid steekproeflengten worden verminderd en aangegeven in de tekening.Praktische tip 2: Als er nog steeds onvoldoende ruimte is, wordt de totale hoogte van het primaire profiel Pt gemeten over de beschikbare lengte in plaats van Rt of Rz. Pt nog gelijk is aan, Rtmaar gedefinieerd op het primaire profiel en de meetwaarde is altijd groter.

Beoordeling van de ruwheidsmetingen (EN ISO 4288)Ruwheidsmeetwaarden, met name de verticale parameters Rt, Rz, Rz1max of Ra, hebben een bereik van -20% tot +30%. Een enkele meetwaarde kan dus geen volledige verklaring geven met betrekking tot de naleving van de toegestane parametertoleranties. De volgende procedure wordt gespecificeerd in de EN ISO 4288 Bijlage A:

Max-regelAlle ruwheidsparameters onder toevoeging van "max" als maximum van de gemiddelde waarde van de vijf steekproeflengtes: Meet tenminste op drie verschillende plaatsen op het oppervlak waar de hoogste waarden worden verwacht; de aangegeven limiet mag nergens worden overschreden.

Voorwaarden voor ruwheidsmetingen

Page 59: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag57

16%-regelAlle ruwheidsparameters zonder toevoeging van "max" de gemiddelde waarde van de vijf steekproeflengtes:16% van de meetwaarden mogen de vermelde grens overschrijden; de stap-voor-stap procedure is als volgt:1. Indien de eerste meetwaarde kleiner is dan 70% van de opgegeven grens, wordt dit gezien als voldoende.2. Als het resultaat anders is, worden er twee aanvullende metingen gedaan op andere locaties op het oppervlak; Als alle drie de meetwaarden kleiner zijn dan de opgegeven limiet, wordt dit gezien als voldoende.3. Indien het resultaat anders is, worden zes aanvullende metingen gedaan op andere locaties op het oppervlak; indien ten hoogste één van de gemeten waarden boven de vermelde grens vallen, wordt dit gezien als voldoende.4.Indien het resultaat anders is, worden twaalf aanvullende metingen gedaan op andere locaties op het oppervlak; indien ten hoogste twee van de gemeten waarden boven de vermelde grens vallen, wordt dit gezien als voldoende.5. Indien het resultaat anders is, worden vijfentwintig aanvullende metingen gedaan op andere locaties op het oppervlak; indien ten hoogste vier van de gemeten waarden boven de vermelde grens vallen, wordt dit gezien als voldoende.

In overige gevallen dient het werkstuk te worden afgekeurd.

Voorwaarden voor ruwheidsmetingen

Page 60: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag58

Voorbeelden Uitleg

Geen verspanende bewerking toegestaan, standaard transmissieband, R profiel, 16%-regel, gemiddelde ruwheidsdiepte 5 µm (bovengrens)

Verspanende bewerking toegestaan, standaard transmissieband, R profiel, max regel maximale ruwheidsdiepte 3 µm (bovengrens); bewerkingstoegift 0,2 mm

Verspanende bewerking toegestaan, standaard transmissieband, R profiel, beoordelingslengte van 3 steekproeflengtes, 16%-regel, gemiddelde ruwheidsdiepte 4 µm (bovengrens); concentrische oppervlaktegroeven

Verspanende bewerking toegestaan, standaard transmissieband, R profiel, 16%-regel, gemiddelde ruwheidsdiepte 5 µm; rekenkundige gemiddelde ruwheidwaarde 1 µm (bovengrens)

Verspanende bewerking toegestaan, standaard transmissieband, R profiel, 16%-regel, gemiddelde ruwheidsdiepte tussen 1 µm (ondergrens) en 3 µm (bovengrens)

Verspanende bewerking toegestaan, standaard transmissieband voor λs, geen λc-filter, P profiel, beoordelingslengte gelijk aan werkstuklengte, 16%-regel, totale hoogte van primaire profiel 25 µm (bovengrens)

Verspanende bewerking toegestaan, standaard transmissieband 0,8 (=λc) 25 (=λf =lw) mm, W-profiel, beoordelingslengte van 5 basismeetlengtes ln= 5*lw= 125 mm), 16%-regel, totale hoogte van het profiel 10 µm (bovengrens)

Verspanende bewerking toegestaan, standaard transmissieband, R profiel, 16%-regel, totale hoogte van ruwheidsprofiel 1 µm (bovengrens); materiaalaandeel van het profiel is 90% in snijhoogte c = 0,3 µm (ondergrens)

Verspanende bewerking toegestaan, standaard transmissieband, R profiel, gemiddelde groefbreedte tussen 0,1 mm (ondergrens) en 0,3 mm (bovengrens)

Uitleg van de betekenis (rechts) van vereenvoudigde benchmarking (links), als de ruimte beperkt is.

Voorwaarden voor ruwheidsmetingen

Page 61: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag59

Thermische uitzettingscoëfficiënt (TUC)

De onderstaande tabel geeft de typische coëfficiënt van thermische uitzettingswaarden (CTE) voor een selectie van 50 materialen bij gematigde temperaturen.

Materiaal α in 10-6 / °CAlumina keramiek 6-7Aluminium en zijn legeringen 21 - 25Beryllium 11Berylliumkoper 17Messing 18 - 21Brons, aluminium (gegoten) 16 - 17Brons, fosfor-silicium 17 - 18Brons, tin (gegoten) 18Gietijzer, nodulair of kneedbaar

10 - 19

Cermet alumina 8 - 9Cermet, chroomcarbide 10 - 11Cermet, titaancarbide 8 - 13Cermet, wolfraamcarbide 4 - 7Koper 17Koper-nikkel en nikkel-zilver

16 - 17

Diamant 1Eindmaat, CERA-blok* 9,3 ± 0,5Eindmaat, staal 10,8 ± 0,5Eindmaat, wolfraamcarbide

5,5 ± 1

Glas, gesmolten kwarts 0,55 - 0,59Glas, pyrex 3,3IJzer, grijs gietijzer 11Magnesiumlegeringen 25 - 28Molybdeen en zijn legeringen 5 - 6

Materiaal α in 10-6 / °CNikkel en zijn legeringen 12 - 17Nikkellegering, lage uitzetting 10Nitreerstaal 12Platina 9Roestvrij staal, precipitatie-gehard

10 - 15

Roestvrij staal, austenitisch 14 - 18Roestvrij staal, gegoten 11 - 19Roestvrij staal, ferritisch 10 - 11Roestvrij staal, martensisch 10 - 12Staal, legering 11 - 15Staal, legering, gegoten 14 - 15Staal, koolstof, automatenstaal 15Staal, hoge temperatuur 11 - 14Staal, ultra-hoge sterkte 10 - 14Superlegeringen, kobaltbasis 12 - 17Superlegeringen, Cr-Ni-Co-Fe 17 - 19Superlegeringen, Cr-Ni-Fe 14 - 16Superlegeringen op nikkelbasis 14 - 18Tantaalcarbide 8Tin en zijn legeringen 23Titanium en zijn legeringen 9 - 13Titaancarbide 7Wolfraam 4Zerodur®, glaskeramiek** 0,05 ± 0,10Zink en zijn legeringen 19 - 35Zirkoon en zijn legeringen 5,5 - 6

* Zirconia-keramiek.** Gebruikt voor de XYZ-schalen van CMM's met ultra-hoge nauwkeurigheid, zoals Mitutoyo's LEGEX-serie.

Page 62: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag60

Thermische uitzettingscoëfficiënt (TUC)

De meeste vaste stoffen zetten uit bij stijgende en krimpen in bij dalende temperatuur. Deze respons op temperatuurverandering wordt uitgedrukt als de thermische uitzettingscoëfficiënt (CTE).

Δl = l1 · α(t2 - t1)ΔΔl = dimensionele veranderingα = thermische uitzettingscoëfficiëntl1 = afmeting bij 20°Ct2 = temperatuur na veranderingt1 = temperatuur voor verandering. Referentietemperatuur (20° C) voor

metrologie (zie EN ISO1).

> VoorbeeldMaatverandering van een 100 mm eindmaat van + 1° C temperatuur referentietemperatuur (20 °C). Mitutoyo materiaal specificatie.

1,20

1,00

0,80

0,60

0,40

0,20

0,00

CTE = 10,8 ± 0,5

CTE = 5,5 ± 1

CTE = 9,3 ± 0,5

Staal Wolfraamcarbide Keramiek

}Tolerantie

Tolerantie{

Dim

ensio

nele

ver

ande

ring

[µm

]

Tolerantie{

Page 63: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag61

Materiaalkenmerken van eindmaten

CERA

-Blo

k Zr

0 2St

aal

Wol

fraa

mca

rbid

e

Vick

ers H

ardh

eid (H

V)13

5080

016

50

Ther

misc

he u

itzet

tings

coëf

ficiën

t (10

-6/°C

)9,

3 ±

0,5

10,8

± 0

,55,

5 ±

1

Buig

sterk

te (N

/ m

m2 =

MPa

)12

7019

6019

60

Breu

ktaa

iheid

KIc (M

Pa·m

1/2 )

712

012

Youn

g's m

odul

us (N

/ m

m2 =

MPa

)20

6000

2060

0061

8000

Poiss

on-v

erho

udin

g0,

30,

30,

2

Soor

telijk

gew

icht (

g / c

m3 =

kg /

dm3 )

67,

814

,8

Ther

misc

he g

eleid

baar

heid

(W /

m·K

)2,

954

,479

,5

Dim

ensio

nale

stabi

liteit

+++

+++

Corro

siew

eerst

and

+++

+++

Slijtv

asth

eid++

++

++

Koste

nho

oglaa

gho

og

Page 64: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag62

Klassen eindmaten

De graad geef de metrologische kenmerken weer (graden van nauwkeurigheid). De volgende tabel kan worden gebruikt om de juiste graad eindmaten voor diverse doeleinden (gespecificeerd door EN ISO 3650, BS4311 en JIS B 7506) te kiezen.

Toepassing Klasse

Werkplaats • Opspan- en snijgereedschappen 2

• Kalibratie van instrumenten• Meterproductie

1 of 2

Inspectie • Instellen van meetinstrumenten 1 of 2

• Het controleren van de meternauwkeurigheid• Kalibratie van instrumenten

0 of 1

Kalibratie • Het controleren van de nauwkeurigheid van eindmaten voor werkplaatsen

• Controle van nauwkeurigheid van eindmaten voor inspectie

• Controle van nauwkeurigheid van instrumenten

K of 0

Referentie • Controle van nauwkeurigheid van eindmaten voor kalibratie

• Academisch onderzoek

K

Page 65: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag63

1,8

1,6

1,2

1

0,8

0,6

0,4

0,2

K0

12

00,5-10 10-25 25-50 50-75 75-100 100-150

1,4

1,8

1,6

1,2

1,0

0,8

0,6

0,4

0,2

K0

12

00,5-10 10-25 25-50 50-75 75-100 100-150

1,4

> Afwijkingsgrenzen van eindmaten EN ISO 3650

> Toleranties van eindmaten EN ISO 3650

Klassen eindmaten

Bepe

rk d

e af

wijk

ing

van

de le

ngte

op

elk

pun

t van

de

nom

inal

e le

ngte

nominale lengte

Klasse

Tole

rant

ie v

oor l

engt

evar

iatie

nominale lengte

Klasse

Page 66: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Naslagwerk Metrologie

Pag64

Aantekeningen

Page 67: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Hoewel alle moeite is gedaan om de juistheid van de gegevens in dit handboek te garanderen, is Mitutoyo niet verantwoordelijk voor eventuele onjuistheden die zijn opgetreden.

Page 68: NASLAGWERK METROLOGIE - Knowledge Sharing Centre · Naslagwerk Metrologie Pag 01 Inhoudsopgave Microns begrijpen 02 Het Griekse alfabet en wiskundige basissymbolen 03 Conversies 04

Mitutoyo Nederland B.V.

Wiltonstraat 25 3905 KW Veenendaal NEDERLAND

T +31 3 185 34 911 [email protected] www.mitutoyo.nl

Mitutoyo Belgium nv/sa

Hogenakkerhoekstraat 8 9150 Kruibeke BELGIË

T +32 3 254 04 44

[email protected] www.mitutoyo.be